日本OTSUKA大塚西南代理線掃描膜厚計在線型

日本OTSUKA大塚西南代理線掃描膜厚計在線型

日本OTSUKA大塚電子在線型線掃描膜厚計，是面向薄膜連續化生產場景打造的全幅面動態膜厚管控核心設備，依托大塚深耕光學干涉量測領域的技術積累，突破傳統單點膜厚儀只能定點抽檢的局限，實現產線全幅面膜厚的實時連續掃描監測，為鋰電隔膜、光學膜、半導體晶圓、光伏背板等行業的高精度成膜工藝提供閉環數據支撐。

這款設備搭載大塚自研的多通道高速光譜檢測模組，采用非接觸式光學干涉原理，沿幅寬方向布置的線掃描探頭可實現每秒最高數千次的光譜采集，以線陣掃描的方式同步獲取整條幅寬上的膜厚分布數據，無需停機即可完成全幅面的連續檢測，檢測速度適配150~200m/min的高速產線運行節奏，不會對薄膜表面造成任何劃傷、污染，適配超薄軟膜的生產場景。設備可覆蓋6μm~1300μm的寬量程檢測范圍，搭配不同波段的光學模組，還可向下延伸至1nm級超薄膜檢測，重復精度控制在0.01%以內，即使是微米級的厚度波動也能精準捕捉。

設備采用分體式模塊化設計，核心檢測探頭體積緊湊，可直接安裝在擠出機模頭下游、鍍膜機腔側、涂布機烘箱出口等關鍵工藝點位，無需對現有產線進行大規模改造。整機適配工業級寬溫工況，搭載振動補償與環境光抑制機制，可在高粉塵、強振動的復雜車間環境下長期穩定運行，24小時不間斷生產的使用需求。系統內置可視化操作界面，可實時生成全幅面膜厚分布云圖與厚度趨勢曲線，自動標記厚度異常點位，同時通過LAN接口直接對接產線PLC系統，將實時膜厚數據反饋給模頭自動調節機構，動態調整成膜參數，將整卷薄膜的厚度均勻性提升至±0.5%以內。