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產(chǎn)品展示檢測(cè)儀器HIOKI/日本日置日本HIOKI日置 直流電阻測(cè)試儀ST5680EOL
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2026-03-07
廠商性質(zhì)：代理商
訪 問(wèn) 量 ：206
028-68749778
產(chǎn)品分類(lèi)
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本HIOKI日置 直流電阻測(cè)試儀ST5680EOL
日本HIOKI日置 直流電阻測(cè)試儀ST5680EOL
| 主要功能 | 直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能"表) |
|---|---|
| 功能一覽 | 聯(lián)鎖、自動(dòng)放電、消除偏移、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW（遠(yuǎn)程控制） |
| 使用溫濕度范圍 | 0°C～40°C，80% RH或以下（無(wú)結(jié)露） |
| 適合標(biāo)準(zhǔn) | 安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 電源電壓 | AC 100 V ～ 240 V |
功耗 | 約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。 |
額定功率 | 800 VA |
接口 | 通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000） 存儲(chǔ)：U盤(pán) |
尺寸·重量 | 305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） |
附件 | 電源線，CD-ROM（PDF：使用說(shuō)明書(shū)，通訊使用說(shuō)明書(shū)），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動(dòng)指南 |
| 直流耐壓測(cè)試 | 輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μA 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以上 測(cè)試模式W→IR，IR→W，程序測(cè)試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測(cè)試 | 輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF |
| 絕緣擊穿電壓測(cè)試 | 測(cè)試方法：連續(xù)升壓測(cè)試，逐級(jí)升壓測(cè)試 測(cè)量?jī)?nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm） 設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測(cè)，電極間距離，電流上限值 檢測(cè)有效電壓：150V以上 |
| 波形顯示功能 | 波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻 采樣速度：500 kS/s 內(nèi)存容量：512 K words |
| ARC放電檢測(cè)功能 | 檢測(cè)方式：監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng) 設(shè)定內(nèi)容：測(cè)試電壓變動(dòng)率1％～50％ 檢測(cè)有效電壓：150V以上 |
| 存儲(chǔ)功能 | ·波形·圖形 ·面板保存功能 ·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能 |
| 判定功能（判定輸出） | 判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：測(cè)量值＞上限值 PASS：上限值≥測(cè)量值≥下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值＜下限值 |
| 注記（*1） | 環(huán)境溫度t不足5℃時(shí)加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 環(huán)境溫度t超過(guò)35℃時(shí)加上±(1% rdg.×(t-35 ) ) |
| 測(cè)試范圍 | 100 kΩ ～ 99.99 GΩ | |
|---|---|---|
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) |
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 100 μA ≦ I ≦ 20 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 注記（*2） | · 測(cè)試電壓為50 V?99 V時(shí)，測(cè)量精度加算±10% · 測(cè)試電壓為100 V?999 V時(shí)，測(cè)量精度加算±5% · 測(cè)試電壓為1000 V?2000 V時(shí)，測(cè)量精度加算±2% · 環(huán)境溫度t小于5℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 環(huán)境溫度t超過(guò)35℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 測(cè)定速度為FAST2時(shí)，測(cè)量精度加倍 | |
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