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日本MITUTOYO 白光干涉儀QUICK WLI Pro系列是融合白光干涉技術與影像測量的復合系統,采用頻域分析算法實現0.1nm垂直分辨率,專用于超精密表面形貌檢測。其創新性的雙模式探頭可在同一坐標系下完成2D尺寸測量與3D粗糙度分析,支持臺階高度、薄膜厚度等納米級參數測量。Pro系列升級環境振動補償系統,在車間環境下仍保持±0.5nm重復精度,配合智能光強調節模塊,可穩定測量鏡面、啞光等。
日本MITUTOYO QVH1 HYPER 302/404/606 Pro是新一代復合型高精度影像測量系統,搭載納米級閉環光柵尺與主動溫控平臺,實現±0.1μm重復精度(302機型)。全系標配STREAM無停頓掃描技術,通過XY軸與頻閃照明同步,提升30%測量效率。專業版集成非接觸式色差傳感器,支持金屬、陶瓷等多材質3D形貌分析,并配備AI驅動的實時工藝偏差預警模塊。
日本MITUTOYO QVH1 頂點 302系列專業版是面向精密制造的旗艦級光學測量系統,采用納米級閉環控制技術,實現±0.15μm的行業頂尖重復精度。其302×302mm測量范圍配合主動溫控平臺,可穩定檢測半導體晶圓、微型齒輪等高附加值工件。專業版升級三豐Vertex AI引擎,支持實時加工誤差溯源與工藝優化建議,內置符合ISO 9001:2025和VDA6.3標準的數字化品控模塊。
日本MITUTOYO QVH4 頂點 302系列專業版是新一代高精度CNC光學測量系統,專為嚴苛工業環境設計。搭載三豐Hyper Vision技術,實現0.1μm級分辨率與±0.2μm重復精度,配合主動防振系統確保車間現場的穩定測量。302mm×302mm大行程工作臺支持復雜工件全自動掃描,集成多軸聯動補償功能,可精準檢測曲面、斜孔等三維特征。
日本MITUTOYO QUICK VISION Hyper Pro是面向精密制造的多功能光學測量系統。該系列搭載納米級線性編碼器和智能溫度補償技術,確保全環境下的測量穩定性(重復精度±0.3μm)。302/404/606 Pro分別對應不同行程規格,支持大尺寸工件的一站式檢測,結合多光譜照明技術,可清晰捕捉金屬、陶瓷等材料的表面細節。
日本MITUTOYO CNC畫像測定時機 QV ULTRA是一款高精度光學測量設備,專為精密制造業設計。其采用優良的CNC控制系統和超高分辨率CCD成像技術,可實現微米級非接觸式測量,適用于復雜輪廓、微小孔位及三維表面的快速檢測。設備配備智能圖像處理算法,自動識別邊緣特征并生成數字化報告,顯著提升質量控制效率。廣泛應用于汽車零部件、電子元件、精密模具等領域,滿足ISO和JIS國際標準要求。